Mô tả
Kính hiển vi luyện kim (Kính hiển vi phản xạ/truyền sáng) MJ33 là một kính hiển vi quang học đa năng được thiết kế cho kiểm tra công nghiệp và phân tích vật liệu. Sản phẩm hỗ trợ quan sát cả trường sáng (bright field) và trường tối (dark field), cùng với chức năng quan sát phân cực đơn giản, giúp nhìn rõ bề mặt và cấu trúc mẫu kim loại, vật liệu, và mẫu không trong suốt.
Hệ thống chiếu sáng phản xạ và truyền sáng sử dụng nguyên lý chiếu sáng Köhler mang lại hình ảnh rõ ràng và đồng đều. MJ33 thích hợp cho các ứng dụng thực tế như kiểm tra bề mặt silicon bán dẫn, substrate LCD, bảng mạch PCB và các mẫu công nghiệp khó quan sát khác
Trang bị hệ trục quang khớp, trinocular nghiêng 30° giúp quan sát liên tục và dễ dàng gắn camera số để ghi lại hình ảnh và đo lường phục vụ báo cáo, tài liệu và QA/QC. Với nền tảng thiết kế mô-đun, hệ thống MJ33 có thể mở rộng thêm các phương pháp quan sát nâng cao như DIC (Differential Interference Contrast).
Thông số kỹ thuật chính
| Thành phần | Thông số |
|---|---|
| Hệ quang | Hệ quang vô hạn (infinity optical system) |
| Khẩu độ thị kính | WF10X (số trường 22 mm) |
| Vật kính đi kèm | PLAN achromatic long WD (không cần lam che kính) |
| – 5X Bright/Dark | WD ≈ 9.7 mm |
| – 10X Bright/Dark | WD ≈ 9.3 mm |
| – 20X Bright/Dark | WD ≈ 7.2 mm |
| – 40X Bright/Dark | WD ≈ 3.0 mm |
| Chia đường ánh sáng | Trinocular nghiêng 30°, tích hợp polarizer |
| Chiếu sáng phản xạ | Halogen 12V – 50W, điều chỉnh độ sáng |
| Chiếu sáng truyền sáng | Halogen 12V – 30W, điều chỉnh độ sáng |
| Bàn cơ học | Double layer, 210×140 mm, hành trình 75×50 mm |
| Focus system | Đồng trục thô/tinh, chia nhỏ 2 µm |
| Adapter chụp ảnh | 1X C-mount adapter |
| Mở rộng tùy chọn | Có thể mở rộng thêm quan sát DIC |
| Nguồn sáng & filter | Có bộ filter màu (vàng, xanh, …) |
| Ứng dụng | Công nghiệp, vật liệu, BGA/PCB, kiểm tra chất lượng, nghiên cứu |
ỨNG DỤNG
MJ33 là kính hiển vi công nghiệp sử dụng hệ quang học vô hạn (Infinity Optical System), được thiết kế chuyên cho:
-
Kiểm tra bề mặt kim loại
-
Phân tích cấu trúc hợp kim
-
Kiểm tra bảng mạch PCB/BGA
-
Phân tích lớp phủ, lớp mạ
-
Quan sát mẫu không trong suốt
Hệ thống hỗ trợ quan sát phản xạ (reflected light) và truyền sáng (transmitted light) trong cùng một thiết bị.
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.